レーザー校正器 LICS-300H

コンパクト

OPTODYNEのLICS-300Hの高性能、 密集したレーザーの干渉計の口径測定システム CNCの工作機械、CMM (座標に目盛りを付ける 測定機械)、および他の精密測定 機械および段階。 それは3つの変位の間違い、6を測定する 直線性の間違い、3四角さの間違いおよび動的 輪郭の間違い。 特許を取られたレーザーに基づいてこの新しい口径測定システム、 ドップラー変位のメートル(LDDMTM)の技術は、ある 容易な組み立ておよび操作のために設計されている。 基本システム、 変位のためのレーザーの頭部そしてretroreflectorを含んで 測定; クォード探知器そして光学正方形のための 直線性および四角さの測定; そして平らミラー そして動的に輪郭を描くことのための光学アダプター 測定、2つの小さい携帯用ケースの適合。 ノートで動くWindowsTMソフトウェア コンピュータは、ユーザーフレンドリー、集まるように設計されている いろいろな企業に従ってデータを分析しなさい NMTBA、VDI、ISOおよびASME B5.54のような標準。 レーザーシステムは目盛りを付けられ、NISTにたどることができる。