監視用カメラ

赤外線高感度InGaAs

感受性のInGaAs冷却された高い/SWIRのカメラ PSLの高い感受性のInGaAsの短波の赤外線(SWIR)カメラは2.2ミクロンまで延長スペクトル反応の320x256決断を提供する。 高い感受性によって冷却されるSWIRのカメラは2.2ミクロンの波長まで分光分析を可能にする。 それはPhotoluminescence、ラマン分光学、半導体レーザーの性格描写および蛍光性に使用することができる。 カメラは周囲温度に関して暗電流を減らし、延長統合の期間を認める60度のデルタTとの有効な冷却に頼る。 PSLの高い感受性のInGaAsの短波の赤外線(SWIR)カメラはまた1600の摂氏温度までベーキングプロセスを含む産業炉および適用の100つの摂氏温度の上の監視の温度のために使用されている。 それは熱い端のガラス部品の気温傾度/欠陥のベールを取り、冷却率を監視することを/それぞれスクラップを減らすことを助ける。 同様にそれはまた溶解した金属のスラグ不純物の早期発見を可能にする。 PSLの高い感受性SWIRのカメラは高性能伝達レンズを提供するある。