複屈折測定システム PA series

光学ガラス用制御用

二次元複屈折測定システム レンズなどの透明・半透明部材の残留応力評価や、透明フィルムの位相均一性評価など、幅広い用途に対応する複屈折測定装置PA/WPAシリーズを高速に測定します。 測定視野は、ミクロからマクロ（～50cm）まで、あらゆる測定FOVに対応します。測定対象物を選ばず、あらゆるサイズに対応できるシステムをご用意しています。 付属の専用ソフトウェアにより、視野サイズの変更、高リターデーション試料の測定範囲の拡大などのオプションが用意されています。また、ノイズ除去や局所的なばらつきの強調など、データ解析に役立つ各種フィルターを搭載しており、設定により複数のフィルターを同時に適用することも可能です。また、ソフトウェア解析機能により、PA/WPAシステムの機能を拡張し、お客様の最も厳しい偏光イメージングニーズに応えることができます。 アプリケーション 偏光板のリタデーションと配向の測定 - ガラス - PCおよびPMMA - PVA、CO、TAC、およびPET - その他、透明・半透明材料 ガラスなどの低リターデーションサンプルに。 硬化ガラスやレーザー加工ガラスなど、リタデーションの分布を定量的に評価することができるシステムです。製造条件や工程のわずかな違いを把握し、製造工程における問題点を特定するのに役立ちます。また、PAシリーズは品質管理ツールとしても最適です。