25 GHzまでのサンプリング・オシロスコープとTDR/TDTおよび光学モデル
15~25 GHz電気、9.5 GHz光、TDR/TDT、2チャネルおよび4チャネル、コンパクト、ポータブル、USB機器です。
これらのユニットは、作業台の上で場所を取らず、ノートパソコンと一緒に持ち運んでオンサイトテストができるほど小型ですが、それだけではありません。大型の卓上型ユニットにリモートプローブヘッドを取り付ける代わりに、テスト対象のデバイスのすぐそばにスコープを配置することができます。スコープとDUTの間にあるのは、短くて低損失の同軸ケーブルだけです。必要なものはすべてオシロスコープに内蔵されており、高価なハードウェアやソフトウェアのアドオンを気にする必要はありません。
- 15TS/s(64fs)シーケンシャル・サンプリング
- 最大15 GHzのプリスケーリング、2.5 GHzのダイレクト・トリガ、11.3 Gb/sのクロック・リカバリ
- 業界最高レベルの16ビット1MS/s ADCと60dBのダイナミックレンジ
- 最大16 Gb/sのアイおよびマスク・テスト、最大223-1のパターン・ロック
- 直感的なタッチ対応のWindowsユーザー・インタフェース
- 包括的な内蔵測定、ヒストグラム、編集可能なデータ・マスク・ライブラリ
- 統合された差動、スキュー可能なTDR/TDTステップ・ジェネレータ
代表的なアプリケーション
- テレコムおよびレーダーのテスト、サービス、製造
- 光ファイバー、トランシーバー、レーザーのテスト
- RF、マイクロ波、ギガビットデジタルシステムの測定
- レーダーバンド I, G, P, L, S, C, X, Ku
- 高精度タイミングおよび位相解析
- デジタル・システムの設計と特性評価
- アイ・ダイアグラム、マスク、リミット・テスト(10 Gb/sまで
- イーサネット、HDMI 1、HDMI 2、PCI、SATA、USB 2.0、USB 3.0
- ケーブル、コネクタ、バックプレーン、PCB、ネットワークのTDR/TDT解析
- 光ファイバー、トランシーバー、レーザーのテスト
- 半導体特性評価
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