MEMSや微細構造物の動的応答と表面粗さ・形状の測定
MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems)などの微細構造デバイスの試験や開発において、表面形状や動的運動の解析と可視化は重要な役割を担っています。MSA-600マイクロシステムアナライザは、表面形状や面内・面外運動の特性を測定するためのオールインワン光学測定ワークステーションで、FEモデルの検証、クロストーク効果の判定、表面変形の測定などに不可欠な装置です。
MSA-600-M/Vは、最大25 MHzの周波数範囲をカバーし、MEMS、MEMSマイクロホン、その他のマイクロシステムに最適です。MSA-600-X/Uは、2.5 GHzまでの高周波および超高周波領域に対応し、高周波MEMS共振器やSAW、BAWなどのマイクロアコースティックデバイスの評価に最適なバージョンです。
MSA-600-Sは、6GHzのリアルタイム振動解析と表面形状解析に特化した光学測定ワークステーションです。FBAR(フィルムバルク音響共振器)、BAW(バルク音響波)フィルタ、SAW(表面弾性波)デバイスなどのGHz帯MEMSのテストに最適です。
マイクロストラクチャのためのオールインワン光学測定ワークステーション
リアルタイム測定(後処理不要)
測定周波数帯域 最大 25 MHz(MSA-600-M / V)
測定周波数帯域 最大 2.5 GHz(MSA-600-X / U)
測定周波数帯域 最大 6 GHz(MSA-600-S)
サブピコメートル変位分解能
振動形状のすばやい測定と可視化
直観的かつ直感的な操作
MEMSプローブステーションとの統合が容易
FEモデル検証のためのインポート/エクスポートオプション