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分析用顕微鏡 SAM 300 E
走査型音響

分析用顕微鏡 - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 走査型音響
分析用顕微鏡 - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 走査型音響
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特徴

応用
分析用
その他の特徴
走査型音響

詳細

SAMラインは、プロセス制御、品質保証、研究アプリケーション向けに、使いやすい走査型音響顕微鏡を提供します。 個々のモデルは、業界標準に準拠し、最先端の生産および製造技術を組み込んだコンポーネントプラットフォームから派生しています。 新しい高周波およびトランスデューサ技術により、当社の音響顕微鏡は、最大400MHzの超音波範囲で詳細な音響分析を可能にします。 -リニアパワー、低ノイズスキャナ -24時間365日の操作には適していません -最大400MHzの超音波周波数範囲でのサンプルの分析 -詳細な音響測定に特に適合 -操作性と柔軟な適用性を実現するグラフィカルユーザーインターフェイスを搭載 -スキャン範囲:x = 320mm、y = 320mm -1ギガサンプルA/Dコンバータ

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。