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走査型音響顕微鏡 SAM 300
分析用研究用産業用

走査型音響顕微鏡 - SAM 300 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 分析用 / 研究用 / 産業用
走査型音響顕微鏡 - SAM 300 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 分析用 / 研究用 / 産業用
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特徴

応用
分析用, 研究用, 産業用
その他の特徴
走査型音響

詳細

SAM 300のスキャンの音響の顕微鏡は品質管理のための高い効率、非破壊的な分析および研究の適用に専用されている。これらのシステムは400までのMHzの新しいrfそしてトランスデューサーの技術によって詳しい音響の調査を可能にする。最も最近の生産および研究の技術を利用する中心のプラットホームのまわりで業界標準に造られて、SAM 300のシリーズに500までのMHz – 400のMHz超音波の周波数範囲が5つのMHzからのトランスデューサーとのある。 スキャンの範囲:x=250 µm-320 mm、y=250 µm-320 mm、z=100mm

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。