走査型音響顕微鏡 SAM 300 TWIN

分析用研究用

SAM 300の双生児は高い効率の分析、品質管理および研究の適用のための高性能用具であり非破壊的な音響の調査を可能にする。それはユーザー フレンドリーのグラフィカル インターフェイスを通して制御される400までのMHzの新しい高速直線運動の走査器そして新しいrfおよびトランスデューサーの技術を特色にする。 新しいマスター・スレーブ概念は2つのトランスデューサーの配列が同時音響のイメージを得ることを可能にする。 最も最近の生産および研究の技術を利用する中心のプラットホームのまわりで半導体の業界標準に造られて、SAMの双生児スキャンは正確に300までのmmウエファーを扱うことができる。超音波の500までのMHz - 400のMHz 10のMHzからトランスデューサーとの周波数範囲。 スキャンの範囲:x=250 µm-320 mm、y=250 µm-320 mm、z=100mm 自動焦点は各トランスデューサーに加えられる