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走査型音響顕微鏡 SAM 400 QUAD
分析用研究用高速

走査型音響顕微鏡 - SAM 400 QUAD - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 分析用 / 研究用 / 高速
走査型音響顕微鏡 - SAM 400 QUAD - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 分析用 / 研究用 / 高速
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特徴

応用
分析用, 研究用
その他の特徴
高速, 走査型音響, 半導体用

詳細

SAM 400のクォードは高い効率の分析、品質管理および研究の適用のための高性能用具であり非破壊的な音響の調査を可能にする。それはユーザー フレンドリーのグラフィカル インターフェイスを通して制御される400までのMHzの新しい高速直線運動の走査器そして新しいrfおよびトランスデューサーの技術を特色にする。 新しいマスター・スレーブ概念は4つのトランスデューサーの配列が同時音響のイメージを得ることを可能にする。 最も最近の生産および研究の技術を利用する中心のプラットホームのまわりで半導体の業界標準に造られて、SAMのクォード スキャンは正確に400までのmmウエファーを扱うことができる。超音波の500までのMHz - 400のMHz 3つのMHzからトランスデューサーとの周波数範囲。 スキャンの範囲:x=250 µm-430 mm、y=250 µm-430 mm、z=100mm 自動焦点は各トランスデューサーに適用するある

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。