モノクロメーター Max-Flux® TXRF

「 集中の等級別にされた多層モノクロメーター TXRFのための総外的な反射角内のサンプルの強度を最大にする Rigakuの革新的な技術によって1990年代初期に導入されて、等級別にされた多層モノクロメーターは全反射のX線の蛍光性の分光測定に増加された強度および減らされた背景を提供する。最高Flux®の光学は楕円の視覚の表面に沿うあらゆるポイントから同じX線エネルギーを保証する等級別にされたmultilayersを分散する使用する。RigakuのOsmic®のコーティングの技術はより少しにより0.5%のd間隔の変化の結果を提供する。そのような高精度の平均はより多くの変化あなたの実験のために利用できる。 光学精密は良い業績にまた重大である。専有技術を使用して、標準的な最高変化光学は理想的なカーブの~10のarcsecの内でなされる。最高の性能が要求されるとき、Rigakuは≤4 arcsecの光学精密を達成するためにアークの） Sec®の新しい技術を適用する! 特徴 容易な直線 サンプルの増加された強度 X線の源からのにせラインからの背景を、特に非常に減らした X線ビーム プロフィールおよび発散の優秀な制御 改良されたデータ収集 CU、Mo、Co、Ag、Au、Cr、W Kα、W Kβおよび他のX線のenergies \ /htmlのために利用できる」