X線回折計 TTRAX III

高解像度

TTRAX IIIは世界で最も強力な回折計です。 θ/θ形状で18kWの回転陽極 X 線源を利用することで、要求の厳しいアプリケーションに最適なシステムを提供します。 薄膜回折と粉末試料中の微量位相の測定は、TTRAXの高出力源から大きな恩恵を受けます。 汎用性のために設計された TTRAXは、クロスビーム光学技術（CBO）と独立した面内散乱軸の両方を組み込み、システムの再構成を必要とせずに可能な限り幅広い測定形状を提供します。 実験能力には、標準的な粉末回折、視線入射回折、面内回折、高分解能回折、X 線反射率、小角 X 線散乱（SAXS）などがあります。 TTRAX IIIは幅広いオプションアタッチメントで構成でき、最大限の柔軟性を実現します。