分光蛍光光度計 Xenius XOF

卓越した性能と感度を持つ光ファイバを用いたin situ測定 SAFAS Xenius XOF は、光ファイバによる in situ 測定用の優れた分光蛍光光度計です。革新的な技術と優れた光学系をベースにしているので、驚異的な再現性で卓越した感度レベルに到達することができます。 ほとんどのアプリケーションでは、サンプルコンパートメントを開けた状態でも、フラッシュランプのような欠点を感じることなく使用できます。 最大7000nm/分のスキャンスピードで、励起、発光、同期、3Dスペクトルを実現し、多くのデータ処理機能を備えています。 1959年、SAFASは世界初のグレーティングモノクロメーターを搭載したスペクトロフルオメーターを発表し、分光学に大きなブレークスルーをもたらしました。今日、Xeniusは新たなブレークスルーであり、おそらく1959年の機器と同様に重要なものです。 多くのオプションが用意されている SAFAS Xenius XOFは、10個の攪拌式温度制御キュベット、マイクロプレート、10個のキュベットと最大10個の波長でのキネティクス、HPLC研究、さらには蛍光異方性の測定のための自動偏光子を取り付けることもできます。また、スペクトルを含む吸光度や発光の測定も可能で、専用のソフトウェアもいくつか使用できます（細胞内カルシウム、一連のサンプルのフォローアップなど）。