皮膜厚測定システム
重量3D自動

皮膜厚測定システム - SCHMID - 重量 / 3D / 自動
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特徴

物質的特性
皮膜厚, 重量
技術
3D
操作方法
自動
測定製品
パネル用, プリント基板用, 工具
応用
制御用, 電子機器用

詳細

膜厚測定と品質管理 パネル測定台は、ディファレンシャルエッチングプロセス後のエッチング分布や銅表面のメッキの盛り上がりを素早く判定することが可能です。測定は、入力パラメータを入力した後、抵抗センサーにより完全自動で行われます。 その後、測定ポイントはPCで評価され、統計ツールを含む3D図に変換されます。 正確で再現性の高い測定:完全自動化により、手作業や操作ミスを防止します。 高速:3.5分で100点の測定が可能 フレキシブル:様々なパネルフォーマットに対応 エッチングやメッキの品質管理 プロセスドリフトを簡単に検出し、修正することができます。 早期発見による歩留まり低下の抑制 寸法1200 x 1120 x 1210 mm (長さ x 幅 x 高さ) 重量:200 kg 最大パネルサイズ:650 x 650 mm 測定範囲 銅の厚さ 1 µm - 120 µm 測定の公差 0.1 µm - 10 µm 銅の層 0.1 µm - 5 µm: ± 0.075 µm 銅薄膜 5 µm - 10 µm: ± < 1,5 %。 5 µm - 120 µm 銅の層 5 µm - 50 µm: ± 0.5 µm 銅の層 50 µm - 80 µm: ± < 1 % です。 銅の層 80 µm - 120 µm: ± < 2 % です。

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カタログ

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。