走査型プローブ顕微鏡(SPM)超高真空装置 MULTIPROBE P,XP,XA,RM

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特徴

応用
走査型プローブ顕微鏡(SPM)

詳細

熱心な標準試料の準備の変形P、XPおよびRMはより遅い改善のためにMULTIPROBE Sシステムに、容易に合うために合う。 MULTIPROBE LTSシステムはXPまたはXAの変形といつでも改善することができる。 強力なXAの解決は分析および準備の部屋の組合せである。 MULTIPROBE Pは電子分光学およびUHVのスキャンの調査の顕微鏡検査のための大きい多技術の分析の部屋が付いている二重部屋の表面科学UHVシステム、およびFELの別のサンプル準備の部屋である。 MULTIPROBE Pの準備の部屋は薄膜の成長のような標準試料の放出させ、熱する準備機能かサンプルを提供する。 MULTIPROBE XPは電子分光学およびUHVのスキャンの調査の顕微鏡検査のための大きい多技術の分析の部屋が付いている二重部屋の表面科学UHVシステム、およびFELの別のサンプル準備の部屋である。 MULTIPROBE XPの準備の部屋はMULTIPROBE XPのLEEDまたはRHEEDによる現場の性格描写の放出させ、熱し、そして薄膜の成長サンプルを含む延長サンプル準備を提供する。 MULTIPROBEのRMは電子分光学およびスキャンの調査の顕微鏡検査のための大きい多技術の分析の部屋が付いている二重部屋の表面科学UHVシステム、および理想的にRHEEDの研究MBEそして現場の薄膜の成長の性格描写に適するLN2冷却の囲い板が付いている別のMBEの部屋である

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カタログ

MULTIPROBE
MULTIPROBE
8 ページ
UHV NANOPROBE
UHV NANOPROBE
12 ページ
SPHERA
SPHERA
8 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。