MBE装置 ARPES

「 R3000検光子とのARPESのための前もって構成されたシステム 4つか5つの軸線の低温学のマニピュレーターの選択（LN2かLHe） 源および他の選択の大きい選択 SPMの改善のために準備される 理性的な統合およびオートメーション の1つのベンチの複数の技術のシステム概念密集した 新しいMULTIPROBE ARPESシステムはARPESに総解決を提供する。設計は電子分光学の分野のScienta Omicronの広大な経験を利用する。単一の売り手が付いているターンキー解決以来性能責任は提供されている、基づいている設計および製造業中磁気保護およびシステムのような深刻な問題は（高リゾリューションの実験のための条件の例）演説する。 ScientaすべてのOmicronシステムは複数の技術システムにアップグレード可能、拡張可能である。例えばSPMおよびMBEの機能を加えるための道はARPESシステムを科学的なtool. \ /htmlとしてさらにもっと」競争にして利用できる