真空マイクロ波漏れ検知器 Multi-Q HD

一体型ディスプレイ付き梱包用

Sepha Multi-Q HDは、非経口用容器の1ミクロンまでのリークを検出するために開発された、非破壊的、決定論的、信頼性の高いCCI（Container Closure Integrity）テストシステムです。 CCIテストは、非経口アプリケーションにとって非常に重要です。なぜなら、非経口アプリケーションには、保存期間が短く、酸素や湿気に非常に敏感な薬剤が含まれていることが多いからです。内容物は組織や血流に直接注入されるため、容器に欠陥があると患者の安全性が損なわれます。このようなアプリケーションでは、最大許容漏洩限度（MALL）が低く設定されていることが多く、CCIを実証するために高い感度が要求されます。Multi-Q HDはこの感度を達成するために開発され、1ミクロン*までの信頼性の高いソリューションを提供します。 SephaのMulti-Q HDは、真空減衰によるパッケージのリークを非破壊で検出するためのFDA公認のコンセンサスであるASTM F2338-09標準試験法に従って真空減衰を利用します。この方法はUSP1207に概説された新しいガイドラインに沿ったもので、信頼性と再現性のある結果を提供する決定論的で客観的な方法を好んでいます。 真空減衰試験は、医薬品容器のリークを特定するための実績ある非破壊的、決定論的、高感度かつ信頼性の高いCCIT法である。新たに開発された高度なセンサー技術により、Multi-Q HDは1ミクロン*までの欠陥を検出することができます。この超高感度技術はS/N比が向上しており、圧力のわずかな上昇を拾って最小ミクロンの穴も検出することができます。センサーは測定ポイントに配置されているため、応答が速く、より高感度な結果が得られます。