DUH-211/DUH-211Sシリーズはマイクロ地域の物質的な強さをを含む定めるように設計されている最も最近の表面の強さの評価システムを表す:半導体、LSIの製陶術、ハードディスク、蒸気はフィルムおよび前の硬度の試験制度と不可能である同じようで薄いコーティングの層を沈殿させた。さらにそれはまたプラスチックおよびゴムのテストに使用することができる。この単位はテストの後で刻み目の代りに動的刻み目の深さを、測定するための独特な方法を特色にし、標準モデルによって観察することができない表面層のテストを許可する、および非常に薄膜。またこの方法がテスト標本の弾性率を定めるためにデータを集めるのに使用することができる。
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