ドーブプリズム

シリコンレーザー用

Si ATRプリズム ATR のプリズムのレーザーの吸収スペクトルを使用して赤外線スペクトルの速い成長の techonoloy であり、それはまた現在最も広く見本抽出の techinques です。それは質的にまたは量的にテストすることができますが、最低かサンプル preparation.This はテストのスピードを非常にあげることができ、効率を、多数の反射 ATR から単一の反射 ATR への正常な温度の測定から温度依存性（摂氏 300 度までの最高温度）の測定への、大気圧の技術からの高圧超臨界の技術への測定への複数の反射 ATR からの単一の反射 ATR への、最高温度を改善します。