校正干渉計 SP 15000 NG
OEM用途用サブナノメーター変位測定用測長用

校正干渉計 - SP 15000 NG - SIOS Meßtechnik GmbH - OEM用途用 / サブナノメーター変位測定用 / 測長用
校正干渉計 - SP 15000 NG - SIOS Meßtechnik GmbH - OEM用途用 / サブナノメーター変位測定用 / 測長用
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特徴

応用
測長用, 校正, OEM用途用, サブナノメーター変位測定用
オプション
レーザー, 光学式, コンパクト, 高精度, Michelson

詳細

長距離での高精度長さ測定のためのレーザー干渉測定システム - 最高精度のフレキシブルな長さ測定システム - 長距離での高精度長さ測定 - 調整と取り扱いが容易 - 最大80mまでの測定が可能 - コンパクト設計 - 豊富なトリガーオプション - WindowsおよびLinuxのOEMソフトウェア用のオープンインターフェース SP 15000 NG ロングレンジレーザー干渉計は、長距離の長さ測定用に特別に設計されたもので、SP 5000 NG 製品シリーズをベースとしています。センサーヘッドには、レーザービームを大きな測定長に最適に適応させる光学部品が追加されています。この高精度リニアエンコーダの主な用途は、大型の三次元測定機や工作機械、長い直線軸、校正距離などです。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。