金属分析器 EDX2000A
電子機器用厚さ皮膜厚

金属分析器 - EDX2000A - Skyray Instrument - 電子機器用 / 厚さ / 皮膜厚
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特徴

測定物
金属
応用分野
電子機器用
測定
厚さ, 皮膜厚
設定
卓上型
使用モード
自動
技術
レーザー, XRF
その他の特徴
無接触

詳細

EDX2000A自動微小面積膜厚計は、Skyrayが長年培ってきた蛍光X線膜厚測定技術の粋を集め、特別に開発した最高峰の膜厚計です。 Skyrayが長年培ってきた蛍光X線膜厚測定技術を結集し、特別に開発しました。従来の膜厚計に比べ、従来のメッキに優れた性能を発揮するだけでなく、半導体、チップ、PCBなどの業界における非接触微小領域膜厚検査のニーズにも応えます。装置の外観はシンプルでエレガントです。X、Y、Z軸に沿ったプラットフォームの自動三次元移動、デュアルレーザー位置決め、セキュリティ保護システムにより、平面、凹凸面、角面、円弧面など様々な単純で複雑なサンプルの迅速な焦点合わせと正確な分析を実現します。 応用分野 電気めっき産業 電子通信 自動車製造 磁性材料 航空宇宙用新エネルギー 金物・衛生陶器 電気機器 貴金属電気メッキ

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