変位測定用干渉計

レーザー光学式Michelson

コントローラーには、レーザーと検出用電子機器が搭載されており、複数のインターフェースを介してすべてのデータを提供します。 PICOSCALE干渉計は、非接触で変位を測定するための強力なシステムです。PICOSCALE干渉計コントローラーには、レーザー光源と、光信号を評価するために必要なすべての電子機器が搭載されています。この信号は、光ファイバを介してコントローラに接続されたセンサヘッドで生成されます。ビームスプリッターにより、レーザービームは参照光と測定光に分けられ、それぞれ参照ミラー（通常はセンサーヘッド内）とターゲットで反射されます。マイケルソンの原理により、ターゲットの反射率を考慮する必要はほとんどありません。PICOSCALE干渉計コントローラーは、強力なファームウェアモジュール、便利なソフトウェア、多彩なアクセサリーにより、新規または既存の測定セットアップに簡単に組み込むことができます。 出力信号 チャンネル数：3 データレート[MHz] - 最大10 測定レーザーの波長 [nm] - 1550, レーザークラス1 (NISTトレーサブル) パイロットレーザーの波長 [nm] - 650, レーザークラス1 GPIOインターフェース - 3×ADC、3×DAC、シリアルデータ、AquadB インターフェイス - シリアルデータ、AquadB USB、イーサネット メカニカル コントローラーシャーシ - 1 HU 19インチラック 電力消費量 [W] - 30