材料ラボXMは、主に材料研究に焦点を当てているアプリケーション固有のXM(エクストリーム測定)製品です。
Materials Lab XM 製品は、完全に統合されたリファレンスグレードのタイムドメインとAC 測定プラットフォームを提供します。 テクニック間でサンプル接続を切り替える必要はありません。 時間領域の測定には、I-V(電流電圧)の特性評価や高速パルス技術が含まれます。 AC 試験技術には、シングルサイン解析から、高速低周波解析のためのマルチジン/高速フーリエ変換、材料の直線性と分解をテストするための高調波と相互変調まで、あらゆるものが含まれます。 電気インピーダンス分光法(EIS)、アドミタンス、誘電率、および静電容量の測定は、XM-studio MTSソフトウェアプラットフォームから提供され、統合された等価回路解析機能も備えています。
時間領域テストとACテストをテスト・シーケンスで組み合わせて瞬時に切り替えることができ、DCとパルス波形を充電キャリアをアクティブにし、その後すぐに活性化されたキャリアのEIS 分析を行うことができます。 この密接に連携した統合は、Materials Lab XM でのみ行われます。 測定には以下が含まれます:
-I-V(電流測定付き電圧スキャン-電子材料および誘電
体材料の特性評価に使用)-P-E(偏光/電界
-強誘電材料の特性評価に使用)-高速パルス( 電子および誘電体材料)
-階段および滑らかな無段階式アナログランプ波形
-インピーダンス、アドミタンス、誘電率、電気弾性率
-C-V 静電容量-電圧、モットショットキー
---