最新世代のModuLab® XM MTSシステムは、モジュール性と柔軟性を念頭に置いて設計されており、幅広いアプリケーションに対応しています。 ModuLab XMは、材料試験研究用に構築された目的:
I-V(電流測定付き電圧スキャン-電子および誘電体材料の特性評価に使用)
P-E(偏光/電界-強誘電材料の特性評価のためのヒステリシス試験の実行に使用)
-高速パルス (電子材料および誘
電体材料の電荷キャリアを活性化するために使用)-階段と滑らかな無段階式アナログランプ波形-インピーダンス、アドミタンス、誘電率、電気弾性率
-C-V 静電容量-電圧、Mott-Schottky
-時間領域とインピーダンスの自動シーケンシング / 静電容量測定
ModuLab XM MTSは、サンプル接続を変更することなく、上記のすべての技術を自動シーケンスで充電キャリアのアクティブ化と解析を行うことができます。 温度制御は、凍結炉、プローブステーションを介してソフトウェアに組み込まれています。
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