シリコンイメージセンサ IMX99 series

InGaAsSWIR可視

可視光から短波長赤外まで撮像可能な高解像度SWIRイメージセンサー 高度な異物検査や材料選別、霧や煙を透過した撮影に SWIRイメージセンサーは、短波長赤外（SWIR/Short-Wavelength InfraRed）領域の光をとらえるセンサーです。SWIR帯域の光を利用すると、半導体のシリコンウェーハを透過して位置合わせマークや内部欠陥を確認したり、不透明な樹脂素材を透過してパッケージの内容物を撮影できます。物質は光の波長によって異なる光吸収特性をもつため、外見が似ている素材の選別、異物の特定、青果の見えない傷や打痕の検出が可能です。空気中の微粒子の影響を受けにくい特徴を活かして、霧や煙、塵などの影響を抑え、肉眼では見えない対象物を映し出すこともできます。 ソニーのSWIRイメージセンサーは、独自の技術SenSWIR™（センスワイア）によって、高解像とセンサーサイズの小型化を両立しています。また、SWIR光だけでなく、可視光での撮像にも対応しています。さらに、デジタル出力に対応するとともに、グローバルシャッターやトリガーモードなどの産業用カメラに適した機能も備えています。