半導体用XYZデュアルインスペクションポータル
カスタマイズ可能
- ウェハー/半導体の自動検査に最適
- 各2 x 720 x 720 x 100 mmの非常に大きな移動範囲
- 2つのプロセスを同時に統合することが可能
クリーンルーム用4軸で構成され、複数の対象物を同時に自動計測できる検査システムです。高いダイナミクスと最高の再現性を実現しています。片側1台の高解像度カメラまたはセンサーをサンプルに対して相対的に移動させ、形状の検査、測定、特別な品質特性の記録を行います。
仕様
- ストローク:720×720×100mm×各2本
- X軸:各2本(25kgまでのスキャナー/顕微鏡用
- Y軸各2本(23 kgまでのチャック、12インチ/300 mmまでのウェハー用
- 繰り返し精度:1.5 - ± 0.3 µm
- 速度:750 - 1500 mm (XY) / 150 - 300 (Z)
- 最大荷重150 N (XY) / 200 N (Z)
- 駆動方式:リニアモーター(アイアンレス)、プロファイルレール(XY)|ボールネジ、ACサーボ(Z)
- フィードバック:リニアスケール、モーターエンコーダー
- モーションコントローラーFMC-250/280、ACS、PLCインテグレーション
- クリーンルームクラスISO 2
カスタマイズされたオプション
- プロセス適合性、サンプルホルダー、ヘッド/センサー
- クリーンルームISO 14644-1対応版(ご要望によりクラス1まで対応可能です。)
- ラック、防振、エンクロージャー、セーフティーコンセプト
- 吸引および循環ベルトカバー用コネクション
- XYZ-Rx-Ry-Rzモーションの自由度拡大
- 位置決めタスクのための3D設計による個別ソリューションの発見
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