レーザー回折による粒度分析器 HELOS & GRADIS

実験用品質管理用研究用

HELOS/KR & GRADIS/Lは、非常に粗い粒子の分析や、キログラム単位までの試料の分析に適しています。また、高い分散力を必要としない結晶、砂、グラニュールなどの分析にも適しています。 HELOS/KRとGRADIS/Lは、0.5～8,750μmの粒度分布を測定することができます。 GRADIS/Lのドロップシュートは最小限の分散しか起こさず、粒子がレーザービームの中に存在する速度をコントロールします。 サンプルはVIBRIバイブレーションフィーダーによって供給されます。制御可能な振動フィーダーは、落下シュートへのロードとは無関係に、サンプルを均一に搬送します。GRADIS/Lでは、粒子収集のためにアスピレーターが使用されており、層流も発生しています。しかし、必要に応じて、分析後にさらに使用するためにサンプルを回収することもできます。 測定と投薬のパラメータはPAQXOSソフトウェアによって制御され、関連するすべてのサイズパラメータを決定することができます。