実験用テスト システム S530

半導体用コンパクト高電圧

InstaView™テクノロジを搭載したAFG31000シリーズは、波形生成アプリケーション、テクトロニクス独自のリアルタイム波形モニタリング機能、最新のユーザ・インタフェースを備えた高性能AFGです。 DUTの波形を直接検証 テクトロニクス独自のInstaView™テクノロジにより、被測定デバイス（DUT）における実際の波形をAFGで表示できます。オシロスコープやプローブなど、他の機器を用意する必要がないため、テスト時間を短縮できるだけでなく、テスト結果におけるインピーダンス不一致の心配がありません。 ダブル・パルス・テストを迅速に AFG31000シリーズは、ダブル・パルス・テスト・ソフトウェアを内蔵した、初のファンクション・ジェネレータです。タッチスクリーン・ディスプレイ上でさまざまなパルス幅（20ns～150μs）を持つ2つの波形を簡単に直接生成できます。外部PCアプリケーションや手動プログラミングは一切必要ありません。 MOSFETやIGBTなどのパワー・デバイスのスイッチング・パラメータを測定し、動的特性を評価できます。 優れた信号忠実度を実現するアドバンス・モード 標準で最大16Mポイント／chの波形メモリを備えており、連続モードで長い波形も正確に生成できます。可変サンプリング・クロック技術により、波形データを取りこぼす心配もありません。アップグレードによって、より高い要件のテストにも対応できるため、複雑な波形も従来のAWGの10分の1のコストで生成／プログラムできます。 オプションのアップグレードでは以下の機能を追加できます。 波形メモリをチャンネルあたり128Mポイントに拡張（Opt. MEM） シーケンス／トリガ／ゲート・モード（Opt. SEQ）：最大25のエントリと分岐、繰返し、待機、ジャンプ、GoTo、外部トリガ、マニュアル・トリガ、時間トリガといった豊富な設定に加え、SCPIコマンドもサポートしており、複雑で柔軟なタイミングを持つ長い波形の生成が可能 任意波形生成の簡略化 任意波形編集ツールのArbBuilderを内蔵しており、任意波形の生成、編集、転送に必要なすべての機能を利用できるため、PCを接続したりファイルを転送する必要がありません。振幅、オフセットのデータは波形に保存されているため、正規化された任意波形データを読み込んだ後に、設定を調整する必要がありません。