実験用テスト システム S530
半導体用コンパクト高電圧

実験用テスト システム
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特徴

分野
実験用
応用
半導体用
形状
コンパクト
その他の特徴
高電圧

詳細

InstaView™テクノロジを搭載したAFG31000シリーズは、波形生成アプリケーション、テクトロニクス独自のリアルタイム波形モニタリング機能、最新のユーザ・インタフェースを備えた高性能AFGです。 DUTの波形を直接検証 テクトロニクス独自のInstaView™テクノロジにより、被測定デバイス(DUT)における実際の波形をAFGで表示できます。オシロスコープやプローブなど、他の機器を用意する必要がないため、テスト時間を短縮できるだけでなく、テスト結果におけるインピーダンス不一致の心配がありません。 ダブル・パルス・テストを迅速に AFG31000シリーズは、ダブル・パルス・テスト・ソフトウェアを内蔵した、初のファンクション・ジェネレータです。タッチスクリーン・ディスプレイ上でさまざまなパルス幅(20ns~150μs)を持つ2つの波形を簡単に直接生成できます。外部PCアプリケーションや手動プログラミングは一切必要ありません。 MOSFETやIGBTなどのパワー・デバイスのスイッチング・パラメータを測定し、動的特性を評価できます。 優れた信号忠実度を実現するアドバンス・モード 標準で最大16Mポイント/chの波形メモリを備えており、連続モードで長い波形も正確に生成できます。可変サンプリング・クロック技術により、波形データを取りこぼす心配もありません。アップグレードによって、より高い要件のテストにも対応できるため、複雑な波形も従来のAWGの10分の1のコストで生成/プログラムできます。 オプションのアップグレードでは以下の機能を追加できます。 波形メモリをチャンネルあたり128Mポイントに拡張(Opt. MEM) シーケンス/トリガ/ゲート・モード(Opt. SEQ):最大25のエントリと分岐、繰返し、待機、ジャンプ、GoTo、外部トリガ、マニュアル・トリガ、時間トリガといった豊富な設定に加え、SCPIコマンドもサポートしており、複雑で柔軟なタイミングを持つ長い波形の生成が可能 任意波形生成の簡略化 任意波形編集ツールのArbBuilderを内蔵しており、任意波形の生成、編集、転送に必要なすべての機能を利用できるため、PCを接続したりファイルを転送する必要がありません。振幅、オフセットのデータは波形に保存されているため、正規化された任意波形データを読み込んだ後に、設定を調整する必要がありません。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。