4200A-SCS型を使用することで、半導体デバイス、材料、プロセス開発の研究、信頼性/障害解析を効率的に実行できます。高性能パラメータ・アナライザは、電流-電圧(I-V)測定、容量-電圧(C-V)測定、超速パルスI-Vの同期測定が行えます。
高速で信頼性の高いパラメータ解析
高度な電気的特性評価が、これまでになく簡単になりました。4200A-SCS型パラメータ・アナライザを使用すると、セットアップから特性評価テストの実行までの時間を最大50%短縮できるだけでなく、信頼性の高い優れた測定/解析機能を利用できます。さらに、テスト・ガイダンスなど、セルフ・ラーニング・ツールを内蔵しているため、誰にでも信頼性の高い測定結果が得られます。
DC I-V、C-V、パルスI-Vの測定に対応した高度な測定ハードウェア
Clariusソフトウェア:ユーザによる変更が可能な数多くのアプリケーション・テストが付属しており、すぐにテストを開始できる
リアルタイムの自動パラメータ抽出、データのグラフ化、解析など豊富な機能を装備