WavePulser 40iXは、高速ハードウェア設計者およびテストエンジニアにとって理想的な測定ツールです。高機能ツールボックスを使用して1回の捕捉でSパラメータ(周波数領域)とインピーダンスプロファイル(時間領域)とを同時に解析可能で、高速インターコネクト特性評価に対する深い理解が得られます。
主な機能
•Sパラメータ DC〜40 GHz、シングルエンドおよびミックスドモード
•インピーダンスプロファイル 分解能 < 1 mm、差動およびコモンモード
•内部自動OSLT校正
•USB接続、小型軽量
•柔軟な測定結果表示
•フィクスチャ、コネクタ、ケーブルの影響を除去
•CTLE、DFE、FFEイコライゼーションを使用してアイパターンをエミュレート
•高度なジッタ解析
S パラメータ
DC〜40 GHzの周波数範囲で、シングルエンドおよびミックスドモードSパラメータ測定をサポートし、周波数特性の完全な評価が可能です。 内蔵自動校正機能は簡単かつ迅速です。WavePulser-40iX-BUNDLEに付属のOLST校正キットを使用すれば、必要に応じて測定基準面を移動できます。
インピーダンスプロファイル
空間分解能 < 1 mmで、差動インピーダンスプロファイルとコモンモードインピーダンスプロファイルの両方をサポートし、異常箇所を正確に特定します。 TDRとTDTの両機能が搭載されており、反射特性と伝達特性の両方を測定する事ができます。