TDR反射率計 T3SP series

テンポラリー

Teledyne Test Tools T3SP15Dは、真の差動信号でDUT特性を調べることができます。 T3SP15Dは、35 psの高速立ち上がり時間、空間分解能(FR4)　3 mm、最長DUT長 40 m、およびTDRの繰り返し速度10 MHzを提供し、校正はVNAと同じくOEPN/SHORT/LOAD/THRU(OSLT) を使います。小型軽量であり、内蔵バッテリオプションも用意されたこの測定器は、手頃な価格で、実験室やフィールドのどこでも使用することができます。 主な機能 •真の差動TDR、空間分解能 < 3 mm •小型、バッテリ駆動 •Sパラメータ 最大15 GHz •立ち上がり時間 35 ps •ロングメモリ 最大50,000ポイント •新しいシリアルデータ規格のテストに対応 真の差動TDR測定器 最新の高速設計のほとんどは、差動伝送ラインが実装されています。 真の差動TDRを使用すると、このような設計でのシグナルインテグリティ測定のセットアップが簡単になります。シールドされていないツイストペアケーブルを測定する場合など、測定対象によってはグランドに接続するのが難しいか、アクセスできない可能性があります。真の差動TDRを使用して測定を行う場合、ほとんどの場合グランド接続は不要であり、グランド接続のない柔軟性にとんだTDR測定が可能です。 高速なTDR繰り返し速度 最大10MHzの繰り返し速度を持つT3SPシリーズは、サンプリングオシロスコープベースの従来のTDR機器よりも300倍以上高速です。 可能な限り最高のダイナミックレンジを実現するために、TDR機器は数百の波形を捕捉して平均化する必要があります。 より速いサンプリング速度は、より速くより正確な測定結果を提供します。 完全に校正されたインピーダンスプロット すべてのTDR機器の基準インピーダンスは相対的なものであり、反射振幅を入射振幅とを比較することによって計算されます。 T3SPシリーズは、完全なOSLT校正を使用して、時間および周波数ドメインでのインピーダンス測定に最高の精度を提供します。 TDR機器で一般的な単純な正規化を使用する代わりに、時間領域でT3SP15Dに４つの校正基準（OPEN、SHORT、LOAD、THRU）を使用すると、セットアップの誤差補正が大幅に改善されます。 時間領域でOSLT校正を使用すると、入射TDRステップの後に発生するリンギングなどのインピーダンスプロットの不整合を回避できます