走査電子顕微鏡 MAGNA

計測学用卓上高解像度

サブナノメートルスケールでのナノ材料の特性評価のためのUHR SEM - 次世代材料（触媒構造、ナノチューブ、ナノ粒子、その他のナノスケール構造など）の高分解能・高コントラストイメージング - サブナノメートルスケールのSEM/STEM計測に適した優れたプラットフォーム - 電子ビームの高速セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により最適なイメージング条件が保証されています。 - 試料のナノキャラクタリゼーションのためのマルチ検出器システムTriBE™およびTriSE™の開発 - ユーザーのスキルレベルに関係なく簡単に操作できるように設計された直観的なソフトウェアモジュール式プラットフォーム