FIB/SEM顕微鏡 AMBER X

分析用インレンズSEモジュール式

マルチスケール材料特性評価のためのプラズマFIBとフィールドフリーUHR FE-SEMのユニークな組み合わせ - 1mmまでの大面積FIBを高スループットで処理 - Gaフリーのマイクロサンプル調製 - 超高分解能、フィールドフリーのFEG-SEMイメージングと解析 - レンズ内SEとBSE検出 - ハイスループット・マルチモーダルFIB-SEMトモグラフィーのための解像度最適化 - ナビゲーションを容易にするための優れた視野 - Essence™ 使いやすいモジュール式のグラフィカル・ユーザー・インターフェース