FIB/SEM顕微鏡 AMBER

分析用素材研究用高精度

材料研究の能力を拡張する多用途なナノ分析FIB-SEM - 高精度マイクロサンプル前処理 - 超高分解能フィールドフリーSEMイメージングとナノ分析 - 拡張された視野と簡単なナビゲーション - マルチサイトプロセスオートメーション - マルチモーダルFIB-SEMトモグラフィー - 使いやすいモジュール式のソフトウェア・ユーザー・インターフェース - 様々な用途に対応する魅力的なオプションパッケージ