FIB/SEM顕微鏡 AMBER cryo
実験用

FIB/SEM顕微鏡
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特徴

タイプ
FIB/SEM
応用
実験用

詳細

TEM用のクライオ・ラメラを準備するための代替ソリューション - 極低温環境下での最も要求の厳しいアプリケーションに対応した柔軟なクライオFIB-SEMワークステーション - プランジ凍結標本からのアーテファクトのない平面上の格子状ラメラのための最適化されたクライオ-TEMラメラワークフロー - 市場に出回っているすべてのクライオTEMとの互換性のあるソリューション - 超低KVでの優れたSEMイメージング性能 - お客様のクライオ操作のために定義されたDrawBeam™プロジェクトを持つクライオユーザーアカウント - 拡張された視野、2つのカメラ、3Dアクティブコリジョンモデルを含む簡単なナビゲーション - 使いやすく、完全にカスタマイズ可能な、アプリケーション指向のモジュール式ユーザーインターフェース - 様々な用途に対応する魅力的なオプションパッケージ

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