走査電子顕微鏡 Phenom ParticleX TC

分析用多目的デスクトップ用

多目的デスクトップSEMによる部品クリーン度解析。 部品クリーン度解析用デスクトップSEM Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEMは、マイクロスケールでのテクニカルクリーンネスを可能にする多目的デスクトップSEMです。 材料特性評価 Phenom ParticleX Desktop SEMは、高品質な自社分析を可能にする汎用的なソリューションです。材料の特性評価、検証、分類を迅速に行うことができ、迅速かつ正確で信頼できるデータで生産をサポートします。また、操作が簡単で習得が早いため、より多くのユーザーに粒子・材料分析の門戸を開いています。 主な機能 技術的なクリーン度 自動車産業において、光学顕微鏡の範囲を超えた微小粒子の分析が求められる中、Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEMは、エネルギー分散型X線分光法（EDS）による自動走査電子顕微鏡を可能にします。これは、粒子の化学的分類を可能にし、生産プロセスや環境における大きな洞察をもたらすため、光学顕微鏡と比較して大きな利点となります。VDA 19 / ISO 16232 または ISO 4406/4407 に準拠した標準レポートが利用可能です。 二次電子検出器 Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEMには、二次電子検出器（SED）がオプションで用意されています。SEDは、試料の最表面層から低エネルギー電子を収集します。そのため、試料表面の詳細な情報を明らかにするために最適な装置です。SEDは、トポグラフィーやモルフォロジーが重要なアプリケーションで非常に有効です。