集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡 Helios 5 DualBeam

素材研究用3D高解像度

TEMやSTEMイメージング、アトムプローブトモグラフィーのための試料作製。高度な自動化により、使いやすさを追求。高品質な地下3Dキャラクタリゼーションが可能です。 FIB試料作製 新しいThermo Scientific Helios 5 DualBeamは、業界をリードするHelios DualBeamファミリーの高性能イメージングと分析機能をベースにしています。材料科学の研究者やエンジニアが集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）を使用する際に、最も困難なサンプルであっても幅広いニーズに応えられるよう、慎重に設計されています。 Helios 5 DualBeamは、高い材料コントラストによる高解像度イメージング、（S）TEMイメージングやアトムプローブトモグラフィー（APT）用の迅速、容易、かつ正確な高品質サンプル前処理、および高品質サブサーフェスと3D特性評価における標準を再定義しています。Helios DualBeamファミリーの実績ある機能をベースに、新しいHelios 5 DualBeamは、さまざまな手動または自動ワークフローに最適化されたシステムであることを保証するために、さらなる進化を遂げています。これらの改良点は以下の通りです： -使いやすさを追求しました：Helios 5 DualBeamは、あらゆる経験レベルのユーザーにとって、最も使いやすいDualBeamです。オペレーターのトレーニングは数ヶ月から数日に短縮され、システムデザインは、すべてのオペレーターが、さまざまな高度なアプリケーションで一貫した再現性のある結果を達成できるよう支援しています。 -生産性の向上：Helios 5 DualBeamとThermo Scientific AutoTEM 5ソフトウェアの高度な自動化機能、堅牢性の向上、安定性の強化により、無人運転や夜間運転も可能になり、サンプル調製のスループットを大幅に向上させる。