透過型電子顕微鏡 Spectra 200

品質管理用素材研究用半導体用

あらゆる材料科学のアプリケーションに対応するハイスループットTEM/STEM顕微鏡。 科学者が複雑な試料の理解を深め、革新的な材料を開発するためには、形態と機能を相関させ、空間、時間、周波数を分解することができる堅牢で精密な装置を利用する必要があります。 サーモフィッシャーサイエンティフィックのThermo Scientific Spectra 200 (S)TEM は、あらゆる材料科学のアプリケーションに対応するハイスループット、収差補正、（走査）透過型電子顕微鏡です。 Spectra 200走査型透過電子顕微鏡の特長 Spectra 200 (S)TEM は、パッシブおよびアクティブ防振により、これまでにない機械的安定性と最高のイメージング品質を提供するために設計された新しいプラットフォームで提供されます。 このシステムは、完全に再設計された筐体に収納され、試料の取り付けと取り外しに便利なオンスクリーンディスプレイを内蔵しています。また、高さを変更することができるため、様々な部屋構成に柔軟に対応することができます。 Spectra 200 (S)TEM は、新しいコールドフィールドエミッションガン (X-CFEG) を搭載することができます。X-CFEGは極めて高い輝度（>>1.0 x 108 A/m2/Sr/V*）と低エネルギー幅を持ち、30 - 200 kVで動作させることが可能です。これにより、高分解能STEMイメージングと高プローブ電流によるハイスループット、高速取得STEM分析が可能になります。X-CFEGとS-CORRプローブ収差補正器の強力な組み合わせにより、1000pA以上のプローブ電流でサブオングストロームSTEMイメージングを日常的に達成することが可能です。