X線光電子分光器 Nexsa G2 XPS

データ取り込み用自動

自動表面分析およびマルチテクニック機能を備えたX線光電子分光器。 X線光電子分光 Thermo Scientific Nexsa G2 X線光電子分光システム(XPS)は、完全に自動化されたハイスループットの表面分析を提供し、研究開発の進展や生産上の問題を解決するためのデータを提供します。XPSとイオン散乱分光法(ISS)、紫外光電子分光法(UPS)、反射電子エネルギー損失分光法(REELS)、ラマン分光法の統合により、真の相関分析が可能になります。このシステムには、試料加熱と試料バイアス機能のオプションが追加され、可能な実験の範囲が広がりました。Nexsa G2表面分析システムは、材料科学、マイクロエレクトロニクス、ナノテクノロジー開発、その他多くのアプリケーションの進歩の可能性を解き放ちます。 高性能X線源 新しい低出力X線モノクロメータにより、分析領域を10 µmから400 µmまで5 µmステップで選択できるため、シグナルを最大化しながら目的のフィーチャーから確実にデータを収集できます。 最適化された電子光学系 高効率の電子レンズ、半球アナライザ、検出器により、優れた検出能力と迅速なデータ収集が可能になりました。 試料観察 Nexsa XPSシステムの特許取得済みの光学ビューイングシステムとXPS SnapMapにより、サンプルの特徴に焦点を合わせることができます。