エアロゾル希釈器 1:10 - 10:370 | DDS 560

動的希薄システムDDS 560は可能性のEN ISO 14644のパート3に従って完全ににそして再生可能に希薄なエーロゾル希薄の要因を調節するように設計されている。 調節された希薄の要因は表示で示されている。 標準的なVDI 3491-15に対応する応用主義では、粒子は指定希薄の比率に従ってサンプルから取除かれる-粒度分布は変わらずに残る。 光学粒子のカウンターは運営原則による最高の測定可能なエーロゾルの集中を示す。 この限界が超過すれば主要な間違いは同時発生のために、例えば除くことができない。 クリーンルームの場合には最高上流の集中のVDI 2083の測定に従うテストか薄層のフロー・ボックスのテストは規定される。 慣習的なクリーンルームの粒子のカウンターはそのような高い濃度で測定してない。 粒子の測定器、例えばラップ322の前に動的dilutorのDDS 560を置くことによって: レーザーのエーロゾルの粒度の分光計はユーザーが選ぶ要因によって、エーロゾルの集中減らすことができる。 従って、要求された上流の集中は装置を数える粒子の測定範囲の内にある集中に薄くすることができる。