欠陥検査機
光学式エレクトロニクス産業用高速

欠陥検査機 - TZTEK Technology Co.,ltd - 光学式 / エレクトロニクス産業用 / 高速
欠陥検査機 - TZTEK Technology Co.,ltd - 光学式 / エレクトロニクス産業用 / 高速
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特徴

技術
光学式
分野
エレクトロニクス産業用
その他の特徴
欠陥, 高速

詳細

ディスプレイパネルの製造工程では、前工程が重要な要素となっています。アレイパネルの製造工程では、外観不良を監視するためにAOI検査技術が使用され、その検査精度や効率は製品の歩留まりやコストに大きく影響する。また、ディスプレイ工場のアレイ部では、周辺回路や凹凸の検査が品質管理の大きな課題となっています。 TZTEKのアレイ加工用AOI装置は、独自に開発したVirgoソフトウェアプラットフォームと独自のプラットフォームキャリブレーション技術を採用しています。製造工程におけるアレイ基板の欠陥検出に最適で、高速スキャンと高い画像精度(検出精度1.0pm/1.5pmを実現)を特徴としています。 プログラムの特長 1. - TZTEK独自のキャリブレーションプラットフォーム技術により、より良い画像スティッチングと領域抽出を実現します。AAゾーンには周期比較、周辺部にはパネル間比較を採用。 2. - 独自開発のVirgoソフトウェアプラットフォームにより、長方形、円形、半円形などの不定形マップの作成が可能。 3. - 1.0 pm / 1.5 pmの精細度を実現。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。