欠陥検査機

光学式産業用高解像度

TZTEK のガラス欠陥の検出装置は多数の技術の適用によって開発される forglass のための検出機械、多数のイメージの defectanalysis の欠陥の検出および分類装置のアルゴリズムおよび精密な transmissionmechanism のようなのです。efficientdetection、理性的な判断、速い調節および多重レベル拡張の特徴によって、themaximum 検出の accuray は 11 um に達することができます。 モジュラー検出の延長を支える統合された働くモード - 単位は Ioading の場所、AOI の検出の場所、ビニングおよび荷を下す場所から、前部とできます成っています クリーニングマシンのドッキングをサポート - モジュール設計はシングル/ダブルトラック検出をサポートします。検出ステーションは、製品の需要に応じて、より多くのモジュールを拡張することができます。 よりスマート - 自動的に欠陥の特徴を学んでいる A1 によってそれはデータを追跡し、空白の検出の間に欠陥を分類するためにオンラインで QR コードを読むことができます - 検出データは QR コードにつながることができ、アップロード system.you は検出の回路を見るために QR コードをスキャンできます - 豊富な検出データにより、統計・分析後、生産プロセスの改善に役立てることができる。 より高い精度を実現 - 午後11時までの最高精度と画像欠陥の正確な位置で、高度に標準化されたテスト要件に対応します。 - 各処理段階での製品ロスを削減し、yield.escape率を向上させます。<0.5%;オーバーキル率。<10% (手動で検証可能)