厚さ測定システム MT2010VIS/UV

臨界次元光学フィルム用

オーバーレイ オーバーレイとは、上のレイヤーと下のレイヤーを位置合わせするプロセスである。オーバーレイ誤差は、これら2つのレイヤー間の偏差として定義されます。オーバーレイエラー測定は、2つの異なるオーバーレイマークの偏差を計算する画像処理プロセスで、ほとんどの場合、異なるプロセスで生成され、異なる材料で構成されています。 オーバーレイ測定では、ボックス・イン・ボックス、フレーム・イン・フレーム、Lバー、サークル・イン・サークル、クロス・イン・クロス、またはカスタマイズされた構造がサポートされています。 重要な寸法 光学測定は非接触、非破壊の測定技術であり、高精度で高速です。構造幅は、画像から強度情報を抽出することで計算できます。強度画像は、ノイズや変形による干渉を防ぐために処理する必要があります。 TZTEKの計測システムは、このような干渉を除去する機能を備えています。構造幅が0.7μm以下の場合、UV光を適用することができます。 膜厚測定 透明・半透明の誘電体膜（レジスト）を3層まで測定できます。自動校正機能を内蔵しています。 主な機能 -膜厚、限界寸法の測定が可能 -ウェーハサイズ200mmまで対応可能 -自動校正、自動測定 -SECS/GEM -低メンテナンスコスト、安定性、信頼性