臨界次元測定システム IRIS
赤外線カメラ半導体用

臨界次元測定システム
臨界次元測定システム
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特徴

物質的特性
臨界次元
技術
カメラ, 赤外線
測定製品
半導体用

詳細

TZTEKの赤外線システムは、世界的に主導的な地位を占めています。このシステムは、高性能赤外線カメラと設計に最適化された赤外線光学系を組み合わせ、優れた解像度とコントラストの画像を生成します。 主な特長 -最適化された赤外光学システム、赤外光波長1500 nmまで。 -カスタマイズされたハンドリングソリューション -可視光と赤外光を反射・透過モードで併用可能 -SECS/GEM

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。