特徴
-ハードウェアとソフトウェアの完璧な組み合わせにより、さまざまな分野の学術・研究者のニーズに応えます。
-高精度の回折角測定システムにより、より正確な測定結果が得られる
-安定性の高いX線発生装置制御システムにより、より安定した繰り返し精度を実現
-プログラム可能な操作、統合された構造設計、簡単な操作、エレガントな外観
X線回折(XRD)は、結晶構造や化学情報を明らかにするための汎用的な検査機器です。
-様々な相の同定が可能な未知のサンプル
-既知の定量的な相分析を行った混合試料
-結晶構造解析
-高温、低温の環境下での結晶構造変化の解析
-材料表面皮膜の解析
-金属材料の質感や応力の解析
技術パラメータ
定格出力:3kW 管電圧:10~60kV 管電流:5~80mA
X線透過性:ガラス管、セラミクト管、リップルセラミクト管Cu, Fe, Co, Cr, Mo 等, 出力 2kW 焦点サイズ: 1 x 10mm or 0.4 x 14mm or 2 x 12mm 安定性: 0.01
ゴニオメーターの構造水平(8-2 8
回折の半径185mm スキャン範囲0-164 スキャン速度:0.0012°- 70cmin 最大回転速度:1007min
スキャン方式:8-28リンケージ、8.28シングルアクション、連続またはステップスキャン 角度繰返し精度:1/1000度
最小ステッピングアングル:1/1000
検出器 プロポーショナルカウンター(PC): またはシンチレーションカウンター(SC)
直線性のある最大計数速度:5x105 CPS(ドロップアウト計数の補正機能付き) エネルギー分解能比;25%(PC )。50% (SC)
カウント方式:差動係数またはインテグラル、PHA自動、デッドタイム調整可能
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