光学式マイクロメーター

電子外側内側

270種類以上のモデルをご用意しており、生産環境で直接100%の部品を正確に測定するための理想的なソリューションがVEA光学マイクロメータです。これらのマイクロメータは、表面品質管理を同時に行うことができます。 VEAの光学式マイクロメータは、光学ユニットと照明器を結合する事前校正済みのサポートが不要なシンプルな校正システムを採用しているため、精度が低下するリスクを負うことなく、あらゆる種類の工場や生産ラインに取り付けることができます。 これらの機器のトップメーカーであるVEAの光学マイクロメータは、一連の独自技術により、工業環境での精度を保証しています。 • - 4段階の熱補償付き LTC (ラボラトリーサーマルコンペンセーション) 生産環境において、温度範囲が10°～60°の部品に対して、計測ラボと同じ精度（20°±1°）で測定を行うことができます。 • - モジュール MSA（マイクロ安定化精度 は、環境振動の安定化、測定精度の向上、部品の測定精度の解析、リアルタイムの再現性値の提供という3つの基本機能を備えています。 • - 技術の活用 XVR2 (拡張仮想解像度2) は、ますます高度なディープラーニング技術のおかげで、750Mpixelの顕著な解像度を使用することができます。 • - 電子フィルター DAF (Dirty Advanced Filter) ワークピースに付着した汚れの量を評価して、正しい測定値を作成したり、ワークピースの清掃が必要であることを示したりします。 • - 仝 測定軸の自動生成 これにより、マイクロメータを使用することで、位置合わせをしていない部品でも正しい測定を行うことができます。 • - 仝 マルチマスター自動校正 (最大20個)は、専門のオペレータの助けを借りなくても、マイクロメータの経時的な精度を保証します。標準的な校正ブロックに加えて、測定されたマスターサンプルも校正に使用することができます。