屈折率検出器 PVI-3

半導体式動的光電

2.3 - 3.2 µm、周囲温度、光学的に浸漬 PVI-3は、最高の性能と安定性を実現するための洗練されたHgCdTeヘテロ構造をベースに、デバイスのパラメータを向上させるために光学的に浸漬された非冷却型のIR光起電力検出器です。検出器はλopt = 3.0 μmで最大の性能を発揮するように最適化されています。カットオン波長はご要望に応じて最適化することができます。逆バイアスVbは、応答速度とダイナミックレンジを大幅に向上させる可能性があります。また、高周波数での性能も向上しますが、バイアスをかけたデバイスに現れる1/fのノイズは、低周波数での性能を低下させる可能性があります。 特徴 - 2.3～3.2 µmのスペクトル領域で高い性能を発揮 - 周囲温度動作 - 超半透明マイクロレンズ技術の応用 - バイアス不要 - 1/fノイズなし パラメータ PVI-3 材質. MCT タイプ。 太陽光発電 没頭。 イマージョン 冷却。 いいえ 波長/λopt/μm: 3 パッケージ BNC、TO8、TO39 窓。 いいえ 検出率／D∗／cm⋅Hz1/2⋅W-1：≧5,0x1010 時定数のτ/ ns: ≤350