屈折率検出器 PCI-2TE-5

光学式半導体式動的

1.0 - 5.4 µm、2ステージ熱電冷却、光学的に浸漬 PCI-2TE-5は、最高の性能と安定性を実現するために、光学的にデバイスのパラメータを改善するために光学的に浸漬された洗練されたHgCdTeヘテロ構造をベースにした2段熱電子冷却型のIR光導電検出器です。検出器は、λopt = 5.0 μmで最大の性能を発揮するように最適化されている。カットオン波長は、GaAsの透過率（〜0.9μm）によって制限されています。デバイスは最適なバイアス電圧と電流読み出しモードで動作する必要があります。低周波での性能は1/fノイズにより低下します。3°ウェッジドサファイア(wAl2O3)窓により、不要な干渉の影響を防ぎます。 特徴 - 1.0～5.4 µmのスペクトル領域で高い性能を発揮 - 二段式熱電冷却式 - 超半透明マイクロレンズ技術の応用 - 長寿命とMTBF - 安定性と信頼性 - 1/fノイズ パラメータ PCI-2TE-5 マテリアル MCT タイプ。 光導性 没頭。 イマージョン 冷却。 二段式 波長/λopt/μm: 5 パッケージ TO8、TO66 窓：くさび状のAl2O3 検出率／D∗／cm⋅Hz1/2⋅W-1：≧2,0x1010 時定数のτ/ ns: ≤20000