X線フラットパネルディテクタ Dynamic 41|200
非破壊試験デジタル

X線フラットパネルディテクタ - Dynamic 41|200 - Waygate Technologies - 非破壊試験 / デジタル
X線フラットパネルディテクタ - Dynamic 41|200 - Waygate Technologies - 非破壊試験 / デジタル
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特徴

応用
X線, 非破壊試験
オプションとアクセサリー
デジタル

詳細

dynamic 41|200 は、Waygate Technologies の次世代工業用 X 線フラットパネル X 線検出器プラットフォームに属しています。 Waygate 独自の Endurance TMCSI シンチレーターは、従来の GadOx または他の粉末状のシンチレーターと比較して優れた解像度と明るさを提供します。 約 405 x 405 mm² (16 インチ x 16 インチ) の検出領域と 200 µm のピクセルサイズにより、従来の 200 µm DXR 検出器と比較して、画質に影響を与えることなく、検査サイクル時間を 2 〜 3 倍に増やすことができます。 Waygate Technologies は、ほぼ別々のサプライヤにより取得されたコアコンポーネントを組み立てるという手法ではなく、X 線管、ジェネレータ、ソフトウェア、デジタル検出器などの Waygate 独自のコアコンポーネントを組み合わせて調和のとれた高性能システムを実現する、唯一の産業用 CT メーカーです。新しいダイナミック 41|200 検出器は、Waygate Technologies のお客様のみが入手できます。 これは Phoenix v|tome|x c、m、L CT システムで標準になっています。 リクエストに応じて、ダイナミック 41|200 は Seifert x|cube でも利用できます。 製品の特長 •工業用高エネルギー使用での長期信頼性のために設計および最適化された、200 µm ピクセルサイズ (4 MP) の大面積 16 インチ X 線検出器。 •微妙な兆候を簡単に検出するための高解像度画像 (ミニフォーカス X 線管で 100 µm までの特徴を検出)。 •最先端の 200 µm ピクセル DXR 検出器と比較して、効率と感度が最大 10 倍向上した次世代フォトダイオード設計により、画質に影響を与えることなく、サイクルタイムを 2 〜 3 倍に増やすことができます。

見本市

この販売者が参加する展示会

Formnext Chicago
Formnext Chicago

8-10 4月 2025 Chicago (米国-イリノイ)

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。