並ぶもののない柔軟性と効率を持つ産業用 microCT および nanoCT スキャナー
検査技術の進歩により、2D X 線検査、3D コンピューター断層撮影 (microCT と nanoCT®)、3D 計測用の非常に用途の広い高解像度システムが生まれました。 小さな機器の CT スキャンは、最大 2 倍高速な microCT スキャンと 2 倍の解像度のおかげで、これまでになく効率的になりました。
速度、検出の詳細度、またはその両方を向上させる必要があるとしても、Baker Hughes の傘下企業である Waygate Technologies の Phoenix V|tome|x S240 は、どのような 3D 産業または科学 microCT タスクにも適合させることができます。この CT スキャナーは、電子機器、研究開発、科学、自動車産業における検査の課題に取り組むために最適です。
高い柔軟性を実現するために、V|tome|x S240 には、オプションで、180 kV / 20 W の高出力ナノフォーカス X 線管と 240 kV / 320 W のマイクロフォーカス X 線管の両方を装備することができます。 この独自の組み合わせにより、このシステムは、0.2マイクロメートルの詳細な検出可能性での低吸収材料の超高解像度 nanoCT スキャンから、microCT での重量が最大 15 kg で直径が 500 mm の高吸収オブジェクトの 3D 分析まで、幅広い用途に理想的なツールです。
史上最も優れているベストセラーの産業用 CT 主力製品
2003 年の発売時に、Phoenix V|tome|x S は初のラボサイズの高解像 micro および nanoCT® システムでした。 独自の Dual|tube 構成オプションにより、世界中の研究機関や品質ラボで急速にこの種のベストセラー CT システムになりました。 次世代のこのトレンド設定システムが利用可能になったことで、お客様はより優れた機能のメリットを得ると同時に、高解像度、使いやすさ、信頼性と優れた価格性能比を組み合わせた、その 2D 検査および 3D CT システムの前例のない多様性のメリットも得ることができます。