半導体制御装置 IP-3000

超音波

当社の目視外観検査装置 Inspection Pro IP-3000は日々進化を続ける実装基板の検査を迅速かつ精確に行い、漏れなく良否判定する検査装置です。 目視検査の課題であるリライアビリティの実現をコンセプトに商品を開発し、その後IP-3000で取得される検査および修理結果の画像に注視してトレーサビリティを意識。さらに目視検査の柔軟性に着目したテスタビリティに取り組みました。開発段階からお客様の声に真摯に耳を傾け、私たち独自のノウハウを込めた装置となりました。 瞬時に、漏れなく、確実な目視判断をすることが基本コンセプトです。 検査基板全体を眺める従来の目視検査とは一線を画し、目視検査すべきポイントを絞り込むことで、漏れなく確実な検査を行います。 AOI ・AXI ・ICTなどの自動検査で不良基板が検出されるのは周知の通りですが、その製造不良箇所の多くが人手により目視検査で特定されていることは意外と知られていません。 そこでIP-3000に不良および修理画像を記録・管理する機能を追加し、修理工程で活用できるようにしました。 ・自動外観検査装置とのリンク機能 ・自動外観検査装置から修理工程にいたる検査履歴のデータベース管理機能 これにより検査員が瞬間的に良否判定できる情報を表示し、不良個所修正後の情報も履歴管理できます。